标  准  编  号：GB/T 23413-2009 
简体中文标题：纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
繁體中文標題：納米材料晶粒尺寸及微觀應變的測定 X射線衍射線寬化法
English Name：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method

标准简介：
本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。

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